Development of Ellipsometry Based on Spin Hall Effect of Light (5th report)-2D distribution of SHEL shift for evaluation of sub-nanometer surface topography-
Development of Ellipsometry Based on Spin Hall Effect of Light (5th report)-2D distribution of SHEL shift for evaluation of sub-nanometer surface topography-
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基于光的自旋霍尔效应的椭偏仪的发展（第五次报告）-用于评估亚纳米表面形貌的SHEL位移的二维分布-
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
LIZHEHAN，水谷康弘，上野原努，田所利康，高谷裕浩
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yasuhiro Mizutani;Li Zhehan;Yoshiyasu Tadokoro;Tsutomu Uenohara;Yasuhiro Takaya;水谷康弘;LIZHEHAN，水谷康弘，上野原努，田所利康，高谷裕浩
