High-speed atomic force microscopy based force mapping and multiscale observation in combination with fluorescence microscopy
High-speed atomic force microscopy based force mapping and multiscale observation in combination with fluorescence microscopy
复制标题
基于高速原子力显微镜的力图和与荧光显微镜相结合的多尺度观察
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Christian Ganser
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yutaka Shikano;Hiroshi C. Watanabe;Ken M. Nakanishi;Yu-ya Ohnishi;Christian Ganser
