采用XRF方法准确测定Yb:YAG晶体组分
采用XRF方法准确测定Yb:YAG晶体组分
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DOI：
10.3969/j.issn.1007-5461.2021.02.004
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
张庆礼
中科院分区：
文献类型：
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作者：
窦仁勤;罗建乔;刘文鹏;高进云;王小飞;何異;陈迎迎;张庆礼
针对目前普遍存在的难以准确测定晶体组分的问题,提出一种以YAG晶体为标样、采用X射线荧光光谱分析法准确测定晶体组分的方法。测试样品分别为纯YAG晶体、生长原料掺杂浓度1.2 at%和2.0 at% Yb:YAG晶体,采用X射线荧光光谱分析法,对不同浓度的Yb:YAG晶体的组分进行了无损、快速、准确的测定。以纯YAG晶体作为标准样品,标定主成分的含量,大幅提高了检测结果的准确度,主成分Y~(3+)和Al~(3+)的测试误差小于1%、掺杂Yb~(3+)的测试误差小于5%。通过晶体放肩初始部位Yb~(3+)的浓度测定结果,计算出Yb~(3+)在两种待测晶体中的分凝系数分别为1.025和1.045,接近于1,有利于实现Yb:YAG晶体的高浓度掺杂以及优质晶体生长。2.0 at% Yb:YAG晶体的首尾掺杂浓度差小于5%,说明晶体等径部分掺杂浓度均匀性高。