EUV Spectroscopy of Highly Charged Xenon Ions Created Using an Electron Beam Ion Trap

EUV Spectroscopy of Highly Charged Xenon Ions Created Using an Electron Beam Ion Trap
复制标题

DOI:
--
复制
发表时间:
2007-03
期刊:
影响因子:
2.9
通讯作者:
K. Fahy;E. Sokell;G. O’Sullivan;A. Aguilar;J. Pomeroy;J. N. Tan;J. Gillaspy
K. Fahy;E. Sokell;G. O’Sullivan;A. Aguilar;J. Pomeroy;J. N. Tan;J. Gillaspy
中科院分区:
物理与天体物理2区
文献类型:
--
作者:
K. Fahy;E. Sokell;G. O’Sullivan;A. Aguilar;J. Pomeroy;J. N. Tan;J. Gillaspy

文献摘要

被引文献

相似文献