ナノXMCD顕微鏡によるNd-Fe-B商用焼結磁石のFORC解析

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使用纳米 XMCD 显微镜对 Nd-Fe-B 商用烧结磁体进行 FORC 分析

DOI:
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发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
宝野和博
宝野和博
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
宮澤和則;蓬田貴裕;岡本聡;菊池伸明;北上修;豊木研太郎;David Billington;小谷佳範;中村哲也;佐々木泰祐;大久保忠勝;宝野和博

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