Towards the In-situ Detection of Spin Charge Accumulation at a Metal/Insulator Interface Using STEM-EELS Technique
Towards the In-situ Detection of Spin Charge Accumulation at a Metal/Insulator Interface Using STEM-EELS Technique
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使用 STEM-EELS 技术原位检测金属/绝缘体界面处的自旋电荷积累
DOI：
10.1017/s1431927622008972
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发表时间：
2022
影响因子：
2.8
通讯作者：
El Hajraoui K
中科院分区：
文献类型：
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作者：
El Hajraoui K
