Li QL et al.: "Electrical characterization of redox-active molecular monolayers on SiO2 for memory application"Applied Physics Letters. 83. 198-200 (2003)
Li QL et al.: "Electrical characterization of redox-active molecular monolayers on SiO2 for memory application"Applied Physics Letters. 83. 198-200 (2003)
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Li QL 等人：“用于存储应用的 SiO2 上氧化还原活性分子单层的电特性”应用物理快报。
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