M. Ishii et al.: "Site-selective x-ray absorption fine structure analysis of an optically active center in Er-doped semiconductor thin film using x-ray-excited optical luminescence"Applied Physics Letters. 78. 183-185 (2001)
M. Ishii et al.: "Site-selective x-ray absorption fine structure analysis of an optically active center in Er-doped semiconductor thin film using x-ray-excited optical luminescence"Applied Physics Letters. 78. 183-185 (2001)
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M. Ishii 等人：“使用 X 射线激发光学发光对掺铒半导体薄膜中的光学活性中心进行位点选择性 X 射线吸收精细结构分析”应用物理快报。
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