Illumination and scattered light detection of a minute particle using a light source consisting of sub-micrometer defect arrays formed on an extremely flat waveguide core
Illumination and scattered light detection of a minute particle using a light source consisting of sub-micrometer defect arrays formed on an extremely flat waveguide core
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使用由在极其平坦的波导芯上形成的亚微米缺陷阵列组成的光源对微小颗粒进行照明和散射光检测
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Yoshida
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Ohkubo;N. Terada;Y. Yoshida
