Overall Wafer Effectiveness (OWE): A novel industry standard for semiconductor ecosystem as a whole-猫眼课题宝

DOI：

10.1016/j.cie.2011.11.024

发表时间：

2013-05

期刊：

Comput. Ind. Eng.

影响因子：

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通讯作者：

中科院分区：

其他

文献类型：

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作者：

Chen-Fu Chien;Chia-Yu Hsu;Kuo-Hao Chang