Influence of initial surface reconstruction on the interface structure of HfO2/GaAs
Influence of initial surface reconstruction on the interface structure of HfO2/GaAs
复制标题
初始表面重构对HfO2/GaAs界面结构的影响
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Ohtake
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Yasuda;N. Miyata;A. Ohtake
