ミューオン起因半導体ソフトエラーの測定と課題
ミューオン起因半導体ソフトエラーの測定と課題
复制标题
μ介子引起的半导体软错误测量及问题
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
橋本昌宜
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kosuke Ieiri;Nobuyuki Kakiuchi;Yoichi Fujii;Tomonori Hirano;Tomomi Nishimura;Hirona Maeda;Tatsuki Ogasawara;Yoshihiro Ishida;Yoshikage Inoue;Satoru Miyano;Masaki Shiota;Junichi Inokuchi;Hideki Makishima;Masatoshi Eto and Seishi Ogawa;橋本昌宜
