Japanese Patent Examination Practice for AI & IOT

Japanese Patent Examination Practice for AI & IOT
复制标题

日本人工智能专利审查实践

DOI:
--
复制
发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Jun SUGIURA
Jun SUGIURA
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
富山 明俊;長谷部 雅彦;大山 玲子;亀田 倫子;杉山 典正;山田友理・稲葉祐之;Jun SUGIURA;稲葉祐之・井上達彦・鈴木竜太・山下勝;Jun SUGIURA

文献摘要

相似文献