Scanning Tunneling Microscopy and Barrier-Height Imaging of Subsurface Dopants on GaAs(110)
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GaAs(110) 上次表面掺杂剂的扫描隧道显微镜和势垒高度成像
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kengo Kobayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takeshi Oda;Tomonori Totani;Kengo Kobayashi
