Preparation and Characterization of Ultra-clean H:Si (111)-(1x1) Surfaces Studied by HREELS, AFM and STM-STS
Preparation and Characterization of Ultra-clean H:Si (111)-(1x1) Surfaces Studied by HREELS, AFM and STM-STS
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通过 HREELS、AFM 和 STM-STS 研究超净 H:Si (111)-(1x1) 表面的制备和表征
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
加藤大樹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
山川博美;佐藤妙;伊藤哲;中尾登志雄;島田正浩;加藤大樹;加藤大樹;加藤大樹;加藤大樹;加藤大樹;加藤大樹;加藤大樹;加藤大樹
