High-resolution XPS analysis of GaP(001), (111)A, and (111)B surfaces passivated by (NH4)2Sx solution
High-resolution XPS analysis of GaP(001), (111)A, and (111)B surfaces passivated by (NH4)2Sx solution
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对 (NH4)2Sx 溶液钝化的 GaP(001)、(111)A 和 (111)B 表面进行高分辨率 XPS 分析
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Fukuda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Suzuki;N.Sanada;M.Shimomura;Y.Fukuda
