用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性
用耦合谐振环法测量微带基片的介质特性
复制标题
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
范庆元
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
陈磊;李斌;薛祝和;范庆元
