Measurement of noble gas impurities in xenon dark matter detectors using resonance ionization mass spectrometry
Measurement of noble gas impurities in xenon dark matter detectors using resonance ionization mass spectrometry
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使用共振电离质谱法测量氙暗物质探测器中的稀有气体杂质
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Chikara Ito
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoshihiro Iwata;Hiroyuki Sekiya;Chikara Ito
