A thin film bolometer using porous silicon technology
A thin film bolometer using porous silicon technology
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采用多孔硅技术的薄膜辐射热测量计
DOI：
10.1016/0924-4247(93)00691-v
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发表时间：
1994
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Richter
中科院分区：
文献类型：
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作者：
W. Lang;P. Steiner;U. Schaber;A. Richter
