F.Iwata,: "Scratching on polystyrene thin film without bumps using atomic force microscopy"J.Vac.Sci. & Technol.B. 17. 2452-2456 (1999)
F.Iwata,: "Scratching on polystyrene thin film without bumps using atomic force microscopy"J.Vac.Sci. & Technol.B. 17. 2452-2456 (1999)
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F.Iwata，：“使用原子力显微镜在没有凸块的聚苯乙烯薄膜上进行划痕”J.Vac.Sci。
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