La_<2-x>Sr_xCuO_4薄膜における擬ギャップ領域のテラヘルツ複素伝導度測定
La_<2-x>Sr_xCuO_4薄膜における擬ギャップ領域のテラヘルツ複素伝導度測定
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La_<2-x>Sr_xCuO_4薄膜赝能隙区太赫兹复电导率测量
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
塚田一郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
中村大輔;今井良宗;前田京剛;塚田一郎
