On-the-flyチャージポンピング法によるSiC MOSFET 負バイアスストレス時の界面トラップ生成解析
On-the-flyチャージポンピング法によるSiC MOSFET 負バイアスストレス時の界面トラップ生成解析
复制标题
使用动态电荷泵方法对 SiC MOSFET 负偏压期间的界面陷阱生成进行分析
DOI：
--
复制
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
岩室 憲幸
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
岡本 大;染谷 満;坂田 大輝;張 旭芳;松谷 優汰;畠山 哲夫;岡本 光央;原田 信介;矢野 裕司;岩室 憲幸
