T. Yoshida, H. Hasegawa: "Ultrahigh-vacuum Contactless Capacitance-Voltage Characterization of Hydrogen Terminated-Free Silicon Surfaces"Jpn. J. Appl. Phys.. 39. 4504-4508 (2000)
T. Yoshida, H. Hasegawa: "Ultrahigh-vacuum Contactless Capacitance-Voltage Characterization of Hydrogen Terminated-Free Silicon Surfaces"Jpn. J. Appl. Phys.. 39. 4504-4508 (2000)
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T. Yoshida、H. Hasekawa：“无氢封端硅表面的超高真空非接触式电容电压特性”Jpn。
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