Application of a Si/CdTe Compton camera for the polarization measurement of radiative recombination X-rays
Application of a Si/CdTe Compton camera for the polarization measurement of radiative recombination X-rays
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Si/CdTe康普顿相机在辐射复合X射线偏振测量中的应用
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and T. Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Tsuzuki;S. Watanabe;S. Oishi;N. Nakamura;N. Numadate;H. Odaka;Y. Uchida;H. Yoneda;and T. Takahashi
