Hangsheng Yang: "High-resolution transmission electron microscopy of as-deposited boron nitride on the edge of ultrathin Si flake"Journal of Applied Physics. 95・5. 2337-2341 (2004)
Hangsheng Yang: "High-resolution transmission electron microscopy of as-deposited boron nitride on the edge of ultrathin Si flake"Journal of Applied Physics. 95・5. 2337-2341 (2004)
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杨航生：“超薄硅片边缘沉积氮化硼的高分辨率透射电子显微镜”应用物理杂志95・5（2004）。
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