T.Abukawa, C.M.Wei, K.Yoshimura, S.Kono: "Assesment of correlated thermal diffuse scattering as a direct structural method on the multielement surface system of Si (111)(√<3>x√<3>)-In"Surface Review and Letters. 7. 547-553 (2000)
T.Abukawa, C.M.Wei, K.Yoshimura, S.Kono: "Assesment of correlated thermal diffuse scattering as a direct structural method on the multielement surface system of Si (111)(√<3>x√<3>)-In"Surface Review and Letters. 7. 547-553 (2000)
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T.Abukawa、C.M.Wei、K.Yoshimura、S.Kono：“作为 Si (111)(√<3>x√<3>)-In 多元素表面系统的直接结构方法的相关热漫散射评估“表面评论和信件。7. 547-553 (2000)
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