Wei Gao,Eijiro Sato and Satoshi kiyono: "Roundness measurement using angle probes"Proceedings of SPIE Vol. 4222, In-Process Control and Inspection for Industry. 408-411 (2000)
Wei Gao,Eijiro Sato and Satoshi kiyono: "Roundness measurement using angle probes"Proceedings of SPIE Vol. 4222, In-Process Control and Inspection for Industry. 408-411 (2000)
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高伟、佐藤英二郎和清野聪：“使用角度探针进行圆度测量”SPIE 论文集第 1 卷。
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