Layout-Aware 2-Step Window-based Pattern Reordering for Fast Bridge/Open Test Generation
Layout-Aware 2-Step Window-based Pattern Reordering for Fast Bridge/Open Test Generation
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布局感知的两步基于窗口的模式重新排序，用于快速生成桥接/开放测试
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kazuhiko Iwasaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masayuki Arai;Shingo Inuyama;Kazuhiko Iwasaki
