J.Taniguchi, I.Miyamoto et al.: "Utilizing of hydrocarbon contamination for prevention of the surface charge-up at electron-beam assisted chemical etching of a diamond chip"Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 121. 507-509 (1977)
J.Taniguchi, I.Miyamoto et al.: "Utilizing of hydrocarbon contamination for prevention of the surface charge-up at electron-beam assisted chemical etching of a diamond chip"Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 121. 507-509 (1977)
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J.Taniguchi、I.Miyamoto 等人：“利用碳氢化合物污染防止电子束辅助化学蚀刻金刚石芯片时的表面充电”《核物理研究仪器和方法》B. 121. 507-509
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