Counting of Electric Charge for Control of Local Metal Plating Using a Scanning Nanopipette Probe Microscope

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使用扫描纳米移液器探针显微镜计数电荷以控制局部金属电镀

DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
F.Iwata
F.Iwata
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
S.Ito;F.Iwata

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