Micro-PIXE as a complement to electron probe microanalysis in mineralogy
Micro-PIXE as a complement to electron probe microanalysis in mineralogy
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Micro-PIXE 作为矿物学中电子探针微量分析的补充
DOI：
10.1016/0168-583x(90)90650-j
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发表时间：
1990
影响因子：
1.3
通讯作者：
L. Cabri
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Campbell;J. Maxwell;W. J. Teesdale;J. Wang;L. Cabri
