Nanostructural characterization of surfaces, interfaces, and thinfilms using x-ray reciprocal-lattice space imaging(written in Japanese)
Nanostructural characterization of surfaces, interfaces, and thinfilms using x-ray reciprocal-lattice space imaging(written in Japanese)
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使用 X 射线倒易晶格空间成像对表面、界面和薄膜进行纳米结构表征（日语撰写）
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and H. Funakubo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
O. Sakata;M. Yoshimoto;K. Miki;M. Nakamura;and H. Funakubo
