High-pressure two-dimensional x-ray diffraction measurement system using a Kawai-type multianvil apparatus at SPring-8
High-pressure two-dimensional x-ray diffraction measurement system using a Kawai-type multianvil apparatus at SPring-8
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SPring-8 使用 Kawai 型多砧装置的高压二维 X 射线衍射测量系统
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Funakoshi;K
