M.Awaji, H.Hashimoto: "Detection of a Point Defect in a Silicon Single Crystal by a Subtration Method Using High Resolution Transmission Electron Microscopy" Acta Crystallograohica. A52. 158-170 (1996)
M.Awaji, H.Hashimoto: "Detection of a Point Defect in a Silicon Single Crystal by a Subtration Method Using High Resolution Transmission Electron Microscopy" Acta Crystallograohica. A52. 158-170 (1996)
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M.Awaji、H.Hashimoto：“使用高分辨率透射电子显微镜通过减法法检测硅单晶中的点缺陷”Acta Crystallograohica。
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