Surface electron spectroscopy based on nc-AFM with changing bias voltage at closer tip-sample separations
Surface electron spectroscopy based on nc-AFM with changing bias voltage at closer tip-sample separations
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基于 nc-AFM 的表面电子能谱，在尖端与样品的距离更近时改变偏置电压
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
富取正彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
新井豊子;Kosei Kiyohara;Taiki Sato;Shugaku Kushida;富取正彦
