Development of near-field scanning optical microscope systems for nanomaterial characterization
Development of near-field scanning optical microscope systems for nanomaterial characterization
复制标题
开发用于纳米材料表征的近场扫描光学显微镜系统
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Takuo Tanaka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Maria Vanessa Balois*;Norihiko Hayazawa;and Takuo Tanaka
