Digital Single Event Transient Pulse-Widths estimation in Logic Cells from Heavy-Ion-Induced Transient Currents in a Single MOSFET
Digital Single Event Transient Pulse-Widths estimation in Logic Cells from Heavy-Ion-Induced Transient Currents in a Single MOSFET
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根据单个 MOSFET 中的重离子感应瞬态电流估算逻辑单元中的数字单粒子瞬态脉冲宽度
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and K. Hirose
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Makino;S. Onoda;T. Hirao;T. Ohshima;D. Kobayashi;H. Ikeda;and K. Hirose
