Neutron-induced Single Event Upsets in advanced commercial Fully Depleted SOI SRAMs
Neutron-induced Single Event Upsets in advanced commercial Fully Depleted SOI SRAMs
复制标题
先进商用全耗尽 SOI SRAM 中中子引起的单粒子扰乱
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J.Baggio 他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Hirose et al.;Motoi Endo;K.Hirose 他;K.Akimoto 他;Ryo Takahashi;W.Voegeli 他;Mizue Honda;N.Terasawa 他;Kang-Sin Choi;T.Emoto 他;Hiroyuki Abe;N.Terasawa et al.;T.Emoto et al.;T. Higashi;V.Ferlet-Cavrois 他;J.Baggio 他
影响因子：
1.2
作者：
Sato, Tatsuhiko;Niita, Koji;Sihver, Lembit
通讯作者：
Sihver, Lembit