Transparent media thickness measurement employing low-coherence interferometry and a multi-element array
Transparent media thickness measurement employing low-coherence interferometry and a multi-element array
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采用低相干干涉测量法和多元件阵列的透明介质厚度测量
DOI：
10.1117/12.2548564
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Kropác V
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kropác V
本文提出了一种利用低相干干涉仪和多元阵列作为光电探测器测量透明介质厚度的方法。所采用的多元件阵列是消费级数码相机（<0.5k $）的一部分。双光束干涉仪是通过将透明材料板插入测量光束的一半来创建的。在薄的显微镜盖玻片和较厚的显微镜载玻片上评价该方法。
In this communication, we present a method to measure the thickness of transparent media employing a low coherence interferometer and a multi-element array as a photo-detector. The multi-element array employed is part of a consumer-grade digital camera (< 0.5 k$). A two-beam interferometer is created by inserting the slab of a transparent material half-way through into the measurement beam. The method is evaluated on a thin microscope cover slip and on a thicker microscope glass slide.
使用 CCD 阵列进行通道光谱显示，用于学生实验室演示
DOI：
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发表时间：
1994
期刊：
影响因子：
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作者：
A. Podoleanu;S. Taplin;D. Webb;D. Jackson
通讯作者：
D. Jackson
通道光谱液体折射仪
DOI：
--
发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
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作者：
S. Taplin;A. Podoleanu;D. Webb;D. A. Jackson
通讯作者：
D. A. Jackson