Nobuhiro Tomabechi: "Multi-dimensional subsystem-dividing for yield enhancement in defect-tolerant WSI systems"Proc. IEEE Int. Symp. On Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. 40-45 (1999)
Nobuhiro Tomabechi: "Multi-dimensional subsystem-dividing for yield enhancement in defect-tolerant WSI systems"Proc. IEEE Int. Symp. On Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems. 40-45 (1999)
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Nobuhiro Tomabechi：“多维子系统划分，以提高容错 WSI 系统的产量”Proc。
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