Examen direct des métaux par transmission en microscopie et diffraction électroniques
Examen direct des métaux par transmission en microscopie et diffraction électroniques
复制标题
电子显微镜透射和衍射直接测试
DOI：
10.1051/metal/195552090669
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发表时间：
1955
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
R. Castaing
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Castaing
电子Au显微镜对金相组织的检查仅适用于三种不同的方法：a）通过反射直接检查电子Au显微镜的表面。这种方法在实际应用中，几乎Au都不方便获得清晰的图像，因为像差的种类不同，所以最重要的是色差; B）直接用Au显微镜检查表面。电子发射可以通过电子振荡器获得，因为电子振荡器在大多数情况下不能接受，所以形成第二发射，激发剂由离子或紫外线组成。Le microscope à emission，malgré勒格朗intérêt d'une vision normale de l'objet et non rasante comme c'est le cas pour le microscope à réflexion，presente，lui aussi，l'incon vénient de fournir des images à faible résolution; c）Examen par transmission d'une empreinte de la surf face de l'échantillon. L'examen de l'empreinte peut alors être effectué avec tout le pouvoir de résolution du microscope électronique，et c'est cette methode que l'on emploie de fénérale.但迈斯法并不构成一个印模或物体表面的多个摩擦。在非常有利的情况下，化学品生产商就像在莱格尔斯联盟上生产氧化物一样，对生产细节的信心不足以使5微米环境下的检测溶液的溶解能力提高;或者，电子显微镜原理上允许1微米的溶解能力。
L’examen au microscope électronique des échantillons métallographiques s’ effectuait jusqu’à maintenant par l’une ou l’autre des trois méthodes suivantes: a) Examen direct de la surface au microscope électro nique par réflexion. Cette méthode présente, tout au moins dans son état actuel, l’inconvénient de fournir des images à résolution peu élevée, par suite d’aberrations diverses parmi lesquelles la plus importante est l’aberration chromatique; b) Examen direct de la surface au microscope à émis sion. L’émission électronique peut être obtenue soit par chauffage de l’échantillon, ce qui est inaccep table dans la plupart des cas, soit sous forme d’émission secondaire, l’agent excitateur étant constitué par un faisceau d’ions ou par un rayon nement ultra-violet. Le microscope à émission, malgré le grand intérêt d’une vision normale de l’objet et non rasante comme c’est le cas pour le microscope à réflexion, présente, lui aussi, l’incon vénient de fournir des images à faible résolution; c) Examen par transmission d’une empreinte de la sur face de l’échantillon. L’examen de l’empreinte peut alors être effectué avec tout le pouvoir de résolution du microscope électronique, et c’est cette méthode que l’on emploie de façon générale. Mais l’empreinte elle-même ne constitue qu’un moulage plus ou moins fidèle de la surface de l’objet. Dans le cas le plus favorable, celui des empreintes chimiques comme l’empreinte d’oxyde sur les alliages légers, la fidélité de reproduction des détails n’est plus suffisante pour que le pou voir de résolution de l’examen puisse être poussé au-dessous de 5 millimicrons environ; or, le micros cope électronique permet en principe un pouvoir de résolution meilleur que 1 millimicron.