Yuya Tanaka and Hisao Ishii
Yuya Tanaka and Hisao Ishii
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田中裕也和石井久雄
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Degradation process of pentacene-based transistors observed by three-terminal displacement current measurement
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuya Tanaka;Koki Serizawa;Hokuto Hamada;Kavindra Maduwantha;Kaveenga Rasika Koswattage;Hisao Ishii;芹澤洸希，新藤駿汰，田中有弥，石井久夫;1.三端子変位電流評価法によるペンタセントランジスタの劣化機構解析：トラップ形成速度定数の評価;Degradation process of pentacene-based transistors observed by three-terminal displacement current measurement
