Quantitative Analysis of Direct Piezoresponse for BiFeO3 Films by Scanning Prove Microscopy
Quantitative Analysis of Direct Piezoresponse for BiFeO3 Films by Scanning Prove Microscopy
复制标题
通过扫描显微镜定量分析 BiFeO3 薄膜的直接压电响应
DOI：
--
复制
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Norifumi Fujimura
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Kento Kariya;Takeshi Yoshimura;and;Norifumi Fujimura
