Development of microstructure in Tl-2212 thin films and possible influence on microwave surface resistance values
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复制标题
Tl-2212 薄膜微观结构的发展及其对微波表面电阻值的可能影响
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
C. Grovenor
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Speller;H. Wu;Z. Rek;J. Bilello;C. Grovenor
