導電性AFM探針によるNiナノドット上に形成した高結晶性Ge:H薄膜の局所伝導評価
導電性AFM探針によるNiナノドット上に形成した高結晶性Ge:H薄膜の局所伝導評価
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使用导电 AFM 尖端对 Ni 纳米点上形成的高度结晶 Ge:H 薄膜进行局部传导评估
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高金
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Yoshimura;S. Murakami;K. Kariya;and N. Fujimura;明賀聖慈;高金
