K.Masu: "In-Situ Observation of Electromigration in Cu Film with Scanning μ-RHEED Microscope" Extended Abstract of 1991 International Conference of Solid State Device and Materials,Yokohama,August 27-29,1991. 126-128 (1991)
K.Masu: "In-Situ Observation of Electromigration in Cu Film with Scanning μ-RHEED Microscope" Extended Abstract of 1991 International Conference of Solid State Device and Materials,Yokohama,August 27-29,1991. 126-128 (1991)
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K.Masu：“用扫描 μ-RHEED 显微镜现场观察铜膜中的电迁移”1991 年国际固态器件和材料会议的扩展摘要，横滨，1991 年 8 月 27-29 日，126-128 (1991)。
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