ナノ構造系の4端子抵抗測定におけるバイアス電圧の影響に関する理論研究
ナノ構造系の4端子抵抗測定におけるバイアス電圧の影響に関する理論研究
复制标题
偏置电压对纳米结构系统四端电阻测量影响的理论研究
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
渡邉聡
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
寺澤麻子;飛松啓司;多田朋史;山本貴博;渡邉聡
