T.Shimura, H.Misaki, M.Umeno, I.Takahashi, and J.Harada: "X-ray diffraction evidence for the existence of epitaxial microcrystallites in thermally oxidized SiO_2 thin films on Si (111) surfaces" J.Cryst.Growth.166. 786-791 (1996)
T.Shimura, H.Misaki, M.Umeno, I.Takahashi, and J.Harada: "X-ray diffraction evidence for the existence of epitaxial microcrystallites in thermally oxidized SiO_2 thin films on Si (111) surfaces" J.Cryst.Growth.166. 786-791 (1996)
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T.Shimura、H.Misaki、M.Umeno、I.Takahashi 和 J.Harada：“X 射线衍射证据证明 Si (111) 表面热氧化 SiO_2 薄膜中存在外延微晶” J.Cryst。
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