Towards the Next-Generation Power-Aware Testing Technologies
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复制标题
迈向下一代功率感知测试技术
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
X. Wen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kyosuke Ito;Takahi Matsumoto;Shinichi Nishizawa;Hiroki Sunagawa;Kazutoshi Kobayashi;Hidetoshi Onodera;X. Wen
