Accurate structure-factor phase determination by electron diffraction in noncentrosymmetric crystals.
Accurate structure-factor phase determination by electron diffraction in noncentrosymmetric crystals.
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DOI：
10.1103/physrevlett.62.547
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发表时间：
1989-01
影响因子：
8.6
通讯作者：
Zuo;Spence;Hoier
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Zuo;Spence;Hoier
描述了相位问题的解决方案，它给出了非中心晶体中具有相位 φ h 和 φ g 的电子结构因子的相不变量 Ψ= 2 φ h− φ g。该方法利用了系统三束几何结构中会聚束传输电子衍射图案中最小值的高电压依赖性。对于 CdS，当 h=(00 2) 和 g=(00 4) 时，我们发现 Ψ= 54.4+ 0.9。导出的 (00 2) X 射线结构因子相位误差为 0.069。该方法足够准确，可以提供有关非中心晶体中键合电荷分布的信息。
A solution to the phase problem is described which gives the phase invariant Ψ= 2 φ h− φ g for electron structure factors with phases φ h and φ g in noncentric crystals. The method exploits the high-voltage dependence of a minimum in convergent-beam transmission-electron-diffraction patterns in the systematics three-beam geometry. For CdS, with h=(00 2) and g=(00 4) we find Ψ= 54.4+ 0.9. The error in the derived (00 2) x-ray structure-factor phase is 0.069. The method is accurate enough to provide information on the bonding charge distribution in noncentric crystals.